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泰克新一代高速串行数据测试解决方案

2015-05-21 16:33
来源: 工控网

   在嵌入式系统的设计中,通信接口测试是十分关键的一环。目前PCIExpress、SATA、HDMI、SAS、以太网、USB等接口是较为常用的通信技术,工程师需要确认高速串行总线能够正确传送数据,同时串行传输问题也不会给其他系统元件带来不利影响,一套的实用的测试设备和完整的测试方案是必不可少的。

  随着人们对信息需求的不断提高,高速串行传输凭借传输高的特性越来越受到市场的青睐,串行总线的传输速率也已经达到甚至超过了5Gbit/s。串行数据与内存标准变得越来越快和更加复杂,设计人员需要新的更强大和灵活的工具来准确地检测被测信号。

  泰克公司作为全球示波器市场的领导厂商,为测试串行数据标准的用户推出多款数据测试设备以及解方案,相关的测试技术资料可以进入专题页面载>>串行数据测试技术下载专题

  解决各种以太网技术问题上,泰克公司测试产品组合包括DPO7000和DPO/DSA70000B实时示波器以及针对眼图和抖动分析的TDSET3一致性测试软件和DPOJET分析软件;针对差分探测,电子和光学物理层测试及基于TDR网络分析的DSA8200采样示波器,以及针对强度测试和发射器/接收器评估的AWG7000B任意波形发生器。

  泰克为USB3.0提供了完整的物理层测试解决方案,包括电接口验证和一致性测试、信号路径检定、数字验证和调试无线EVM一致性测试。产品组合包括DPO/DSA70000B实时示波器及串行数据链路分析(SDLA)软件和DPOJET分析软件;针对互连测试的DSA8200数字采样示波器;以及带有接收机测试码型和接收通道仿真的AWG7000B任意波形发生器。

  泰克的行业标准机构成员身份及其硬件与软件测试设备,足以为业界领先的分析、验证和一致性测试能力提供有力得保障,确保设计人员能够自信而高效地解决复杂的系统集成和产品兼容性问题。

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